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NTC 2062-1:2008
Estadistica. Vocabulario y simbolos. Parte 1. Terminos estadisticos generales y terminos utilizados en el calculo de probabilidades.
Statistics. Vocabulary and symbols. Part 1: General statistic terms and terms used in probability.
- Estado Vigente
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DEFINE TERMINOS ESTADISTICOS GENERALES Y TERMINOS USADOS EN EL CALCULO DE PROBABILIDADES.
- Comité técnico: 004 APLICACIÓN DE MÉTODOS ESTADÍSTICOS
- Macrosector: CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓN
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Clasificación ICS:
03.120.30 APLICACIÓN DE MÉTODOS ESTADÍSTICOS
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Palabras clave
- Estadistica - Vocabulario
- Estadistica - Terminologia
- Estadistica - Probabilidad
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Análisis de modos y efectos de falla (AMEF/AMEFC).
ADMINISTRACIÓN ORGANIZACIONAL Y PÚBLICAAnálisis de modos y efectos de falla (AMEF/AMEFC).
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Procedimientos de muestreo para inspección por variables. Parte 3: Esquemas de muestreo doble indexados por nivel aceptable de calidad (nac) para inspección lote a lote.
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNProcedimientos de muestreo para inspección por variables. Parte 3: Esquemas de muestreo doble indexados por nivel aceptable de calidad (nac) para inspección lote a lote.
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Gráficos de control. Parte 4: Gráficas de suma acumulada.
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNGráficos de control. Parte 4: Gráficas de suma acumulada.
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Gráficos de control. Parte 3: Gráficos de control de aceptación.
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNGráficos de control. Parte 3: Gráficos de control de aceptación.
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Métodos estadísticos para uso en ensayos de aptitud por comparación interlaboratorio.
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNMétodos estadísticos para uso en ensayos de aptitud por comparación interlaboratorio.
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Procedimientos de muestreo para la inspección por variables. Parte 2: Especificación general para los planes de muestreo simples tabulados según el nivel aceptable de calidad (nac) para la inspección lote a lote de características de calidad independiente
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNProcedimientos de muestreo para la inspección por variables. Parte 2: Especificación general para los planes de muestreo simples tabulados según el nivel aceptable de calidad (nac) para la inspección lote a lote de características de calidad independiente
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Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 3. Procedimientos de muestreo intermitentes.
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNProcedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 3. Procedimientos de muestreo intermitentes.
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Planes de muestreo secuencial para inspección por variables para porcentaje no conforme (desviación estándar conocida).
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNPlanes de muestreo secuencial para inspección por variables para porcentaje no conforme (desviación estándar conocida).
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Procedimientos de muestreo para inspección por variables. Parte 4: Procedimientos para la evaluación de niveles de calidad declarados.
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNProcedimientos de muestreo para inspección por variables. Parte 4: Procedimientos para la evaluación de niveles de calidad declarados.
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Gráficos de control. Parte 1: Directrices generales.
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNGráficos de control. Parte 1: Directrices generales.
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Directrices para la implementación de control estadístico de procesos (cep). Parte 2: Catálogo de herramientas y técnicas.
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNDirectrices para la implementación de control estadístico de procesos (cep). Parte 2: Catálogo de herramientas y técnicas.
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Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 5: Sistema de planes de muestreo sucuencial determinados por nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote por lote.
CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓNProcedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 5: Sistema de planes de muestreo sucuencial determinados por nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote por lote.
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